自動化儀器儀表里的數(shù)控線路問題勘驗
ROM的檢測ROM中固化了儀器的監(jiān)控程序、工作程序和常數(shù)表格。ROM的檢測就是要考核各存儲單元的代碼或常數(shù)在讀出時是否會出錯。采用的方法是驗證所有讀出的存儲單元各對應(yīng)位代碼的異或和是否正確。將用于校驗的正確的代碼和預先與程序一起固化在ROM中。自檢時，依次讀ROM的存儲單元。每讀一次代碼值，要與前面各項讀數(shù)的代碼和進行按位相加。最后獲得的總的代碼和與標準的代碼和做比較，如一致，說明ROM正常，下面具體說明對ROM的檢測。
設(shè)datal為程序的起始地址， data2為程序的結(jié)束地址， data3為代碼校驗和的存儲單元地址，儀器采用的是MCS 51系列單片機，則可用下列匯編程序自診斷ROM的工作情況。
TROM： MOV DPTR， data2 PUSH DPH PUSH DPL MOV DPTR， datal CLR B LP1： CLR A MOVC A， @ A + DPTR XRL B， A POP A MOV R1， A CJNE A， DPL， LP3 POP A MOV R2， A 25CJNE A， DPH， LP2 A JM P LP4 LP2： PUSH R2 LP3： PUSH R1 INC DPTR A JM P LP1 LP4： MOV DPTR， data3 CLR A MOVC A， @ A+ DPTR XRL A， B JNZ ERR RET ERR： ERR是ROM出錯處理程序的入口。
I/O端口的自檢I/O端口的自檢，可采用環(huán)繞技術(shù)，即將輸出端口和輸入端口連接起來，給輸出口寫入測試矢量，從輸入口讀入，然后進行比較，即可確定有無故障。以MCS 51系列芯片為例進行說明。串行I/O的自檢M CS 51機的串行口為全雙工接口，發(fā)送和接收可以同時進行，可將其輸出TXD和輸入RXD連接起來進行自檢。如所示，當多路分配器的開關(guān)位于a時，RXD和TXD與原電路相接，電路處于正常工作方式。位于d時， RXD與TXD互聯(lián)，用于串行口自檢。位于b和c時，用于并行口和總線的自檢。
串行I/O口的自檢原理圖在串行口自檢時，先開放RXD，然后給TXD寫測試矢量。最后從RXD讀入數(shù)據(jù)，與剛才寫入的測試矢量比較，確定有無故障。下面的程序只測試了串行口的工作方式1，工作方式2和3的測試方法類同，只需改變串行口的控制寄存器SCON的初始值即可。
STRT： MOV TMOD， 20H； T1初始化，確定串行口MOV TL1， 0E8H；傳送速率為1200波特MOV TH1， 0E8H MOV SCON， 50H；串行口設(shè)置工作方式1，允許RXD接收SETB TR1；啟動定時器工作MOV R4， 0H MOV DPTR， MVCT LP1： MOV A， R4 MOV A， @ A + DPTR MOV SBUF， A；由TXD發(fā)送串行數(shù)據(jù)MOV R5， A LP2： JBC R I， LP3；接收寄存器SBUF滿否SJM P LP2 LP3： MOV A， SBUF；讀取由RXD接收的數(shù)據(jù)CJNE A， B， SERR INC R4 CJNE RE， 5H， LP1 RET MVCT： DB 00H， OFFH， OAAH， 55H SERR： SERR為出錯處理程序的入口4 2并行口P 1的自檢MCS 51機的并行口有4個， P 0、P 2、P 3都是專用口，只有P 1口可供用戶作并行輸入輸出口編程使用。為了測試P 1口，可以利用串行口RXD和TXD，如所示。此圖即為中多路分配器開關(guān)位于b和c時的情況。當串行口工作方式0時， RXD既可作串行輸出口使用，給外部移位寄存器輸出數(shù)據(jù)，又可作串行輸入口使用，從外部移位寄存器接收數(shù)據(jù)。而TXD可為外部移位寄存器提供移位脈沖。
P 1口的自檢原理圖當RXD作為輸出口工作時，先將數(shù)據(jù)串行移入74LS164中，再由P 1口并行讀入，進行比較。當RXD作為輸入口工作時，先將數(shù)據(jù)并行寫入P 1口，然后并行輸入74LS166中，再串行地移入RXD中進行比較，便可以確定串行口在方式0時是否工作正常，或者P 1口并行輸入輸出功能是否正常�？偩�的自檢若RAM和ROM的自檢能順利進行，則可以確定地址總線和數(shù)據(jù)總線工作正常。但當ROM和RAM的自檢同時有毛病，則可能是總線有問題。中國糧油儀器網(wǎng) http://m.feta-virtual.com/
